缅甸锦利国际


  首頁  產品信息 光學檢測設備 反射率測量設備 光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量)

反射率測量設備

光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量) 顯示全部
dow.png
缅甸锦利国际

光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量)

  • 產品圖片
  • 微信好友

  • QQ好友

  • QQ空間

  • 新浪微博

光腔衰蕩法準確測量高反射率鏡片,測量精度可達百萬分之一量級!波長范圍寬,精度高,應用界面友好。

所屬類別:光學檢測設備 ? 反射率測量設備

所屬品牌:

產品負責人:

姓名:王工(Karl)

電話:缅甸锦利国际186 1603 9606(微信同號)

郵箱:kangjun-wang@wkbaza.com


  • 產品詳情
  • 數據單及文獻下載
  • 相關應用
  • 詢問表格
  • 聯系方式

    產品負責人:

    姓名:王工(Karl)

    電話:186 1603 9606(微信同號)

    郵箱: kangjun-wang@wkbaza.com

    微信二維碼

光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術,主要用于測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬分之一量級!


光腔衰蕩光譜方法通過對指數型的腔內衰蕩信號的檢測,擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差。由兩片99.99% 反射率組成的光腔對損耗的測量精度可達ppm量級。


應用領域:

高反射鍍膜層損耗的精密測量

正入射反射率R>>99%的平面或凹面光學元件的損耗測量

精度dR/R<2ppm @ R>99.5%

檢測用激光波長可選(如355nm…532nm…633nm…1064nm…1319nm

 

測量原理:

脈沖光或快速開關的連續光耦合進諧振腔

待測膜層在每次往返光程中經反射產生損耗

時間相關的輸出信號的測量得到衰蕩數據

脈沖光往返時間已知,根據衰蕩的時間特點,得到反射率

 

技術指標:

測量反射率:    R>>99%

精度:              dR/R < 2ppm @ R>99.5%

樣品/基底要求*:  ?1”Or 0.5”, 厚度~6mm

基底透明,后表面平面拋光

*0o正入射測量,其他要求可訂制。

供電電源:

激光器              100~240VAC, 50~60Hz

探測器              +/-9 VDC

接口:              USB 2.0

含數據采集, A-D轉換,數據處理等模塊。軟件包括反射率分析、生產數據錄入及處理等。


數據單下載

展示全部 dow.png

詢問表格

* 號為必填內容
  • *
  • *
  • *
  • *

產品標簽:腔鏡測量系統,高反射率測量系統,光腔衰蕩測量系統,反射率測量設備,光腔衰蕩光譜檢測系統, CRDS, 光腔衰蕩光譜,Cavity Ring-Down Spectroscopy

預約試用

* 號為必填內容
請在下載前填寫下面表單
Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *