缅甸锦利国际


  首頁  產品信息 光學檢測設備 Hinds偏振成像設備 磁光克爾效應測量系統

缅甸锦利国际Hinds偏振成像設備

成像型穆勒矩陣測量系統雙折射顯微成像系統(abrio替代產品)二維應力成像儀定量雙折射成像系統磁光克爾效應測量系統 顯示全部
dow.png

磁光克爾效應測量系統

  • 產品圖片
  • 微信好友

  • QQ好友

  • QQ空間

  • 新浪微博

科研級高精度磁光克爾效應測量系統 高精度斯托克斯量測量系統

所屬類別:光學檢測設備 ? Hinds偏振成像設備

所屬品牌:美國Hinds Instruments公司

產品負責人:

姓名:李工(William)

電話:156 1809 2363(微信同號)

郵箱:wentao-li@wkbaza.com


  • 產品詳情
  • 數據單及文獻下載
  • 相關應用
  • 詢問表格
  • 聯系方式

    產品負責人:

    姓名:李工(William)

    電話:156 1809 2363(微信同號)

    郵箱: wentao-li@wkbaza.com

    微信二維碼

科研級高精度磁光克爾效應測量系統

高精度斯托克斯量測量系統


Hinds Instruments 公司的新型磁光克爾效應測量系統可以用來繪制磁性薄膜材料的磁滯回線。通光光彈調制技術,該系統可以提供科研級別的極高測量精度


Hinds. Hinds Instruments MOKE 測量系統,磁光測量,磁光克爾效應測量系統,磁滯回線測量


Hinds Instruments’公司的新型磁光克爾效應測量系統可以用來繪制磁性薄膜材料的磁滯回線。通光光彈調制技術,該系統可以提供科研級別的極高測量精度。


“光彈調制技術用來測量繪制磁性薄膜材料磁滯回線的美妙之處在于, 它不僅增加了微弱磁光效應的信噪比,而且可以同時探測到與克爾(或法拉第)橢偏率和偏轉角分別成正比的基頻和二次諧波的信號并且在一些情況下可以消除偏光器件中的缺陷 。這就意味著可以同時獲得橢偏率和偏轉角這兩個重要的參數.”


- Dr. Ron Atkinson, Professor Emeritus,貝爾法斯特皇后大學。


產品特點

?極高重復精度高的測量系統

?同時測量顯示橢偏率和偏轉角

?高速測量磁滯回線

?光學測量,樣品無損

?區別于旋轉波片等手段,光路固定,測量穩定。


參數:

?光源:635 nm laser diode

?光彈性調制器技術

?磁場:電磁場

?最大磁場:+/- 2400 Gauss (0.24T)

?霍爾探頭探測

?磁場探測精度:0.5GS

?Sample size: 30 mm X 30 mm

?Size (footprint): 12 in x 31 in (305 mm x 787 mm)



數據單下載

展示全部 dow.png

詢問表格

* 號為必填內容
  • *
  • *
  • *
  • *

產品標簽:Hinds,Hinds Instruments MOKE 測量系統,磁光測量,磁光克爾效應測量系統,磁滯回線測量

預約試用

* 號為必填內容
請在下載前填寫下面表單
Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *