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應力雙折射測量系統

二維應力成像儀超精密光學應力測量設備Hinds液晶面板應力分布測量系統非球面透鏡應力雙折射測量系統光伏硅錠應力測量儀 顯示全部
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非球面透鏡應力雙折射測量系統

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不規則非球面光學元件應力分布測量系統(光刻機透鏡測量等)

所屬類別:光學檢測設備 ? 應力雙折射測量系統

所屬品牌:美國Hinds Instruments公司

產品負責人:

姓名:田工(Allen)

電話:185 0166 2513(微信同號)

郵箱:jinquan-tian@wkbaza.com


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    產品負責人:缅甸锦利国际

    姓名:田工(Allen)

    電話:185 0166 2513(微信同號)

    郵箱: jinquan-tian@wkbaza.com

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不規則非球面光學元件應力分布測量系統

(光刻機透鏡測量等)

不規則非球面光學元件(光刻機透鏡等)應力分布測量系統


利用光彈調制器技術,Hinds 公司的應力雙折射測量系統可以在深紫外(193nm)波段進行應力雙折射探測。針對特定材料制作(氟化鈣)和特定形狀(非球面透鏡)有著獨特的技術解決方案。


應力雙折射測量系統,非球面透鏡應力雙折射測量,應力橢偏儀,應力橢偏測量


Hinds 公司的不規則非球面光學元件應力分布測量系統(應力雙折射測量系統)通過對光的調制解調可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向,這些數據同時也表示了應力的大小和方向。Hinds 公司這套不規則非球面光學元件應力分布測量系統獨創的傾斜,多角度入射掃描技術可以保證對非球面不規則的光學元件(光刻機透鏡等)有著完美的掃描測量解決方案。



產品特點:
1. 全套內置軟件自動掃描成圖
2. 非球面掃描(手動宏程序)
3. 應力大小及方向分布探測成圖
4. 定制各種尺寸形狀樣品臺
5. 最低探測強度:皮瓦


產品參數:
1. 可見光波段探測延遲范圍:0 to 300+nm
2. 深紫外波段探測延遲范圍:0 to 90+nm
3. 可見光波段應力探測精度:0.001nm / ±0.03 (up to 3nm, 1% thereafter)
4. 深紫外波段應力探測精度:0.001nm / ± 0.08 nm (up to 4nm, 2% thereafter)




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