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激光光束質量分析儀

UV-NIR光束分析儀(150-1700nm)驚爆價!1.5萬元 激光光束分析儀一體化高精度M^2測量儀通訊專用光束分析儀(驚爆價!低至2萬元!)大口徑光束分析儀聚焦光束分析儀 / 近場光束分析儀準直器全自動調試系統缅甸锦利国际CinAlign-在線調試光束分析儀中紅外激光光束分析儀 (1.5~8um)CO2激光光束分析儀激光線測量分析儀Vcsel光束在線測量系統 中性密度濾波片 顯示全部
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通訊專用光束分析儀(驚爆價!低至2萬元!)

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通訊領域專用光束分析儀(驚爆價!2萬元)!通訊領域專用光束分析儀價格革命!

所屬類別:激光量測設備 ? 激光光束質量分析儀

所屬品牌:德國Cinogy公司

科研市場負責人缅甸锦利国际

姓名:許工(Gary)

電話:缅甸锦利国际130 2016 6031(微信同號)

郵箱:zhengyang-xu@wkbaza.com

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工業市場負責人

姓名:劉工(Will)

電話:130 5208 0139(微信同號)

郵箱:yingjie-liu@wkbaza.com

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銷售經理

姓名:劉工(Pindy)

電話:186 2116 1650(微信同號)

郵箱:zhiping-liu@wkbaza.com

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通訊領域專用光束分析儀(驚爆價!2萬元)


Cost-effective通訊領域專用光束分析儀!通訊領域專用光束分析儀價格革命!



為了滿足通訊領域中廣大客戶的需求,并提高客戶的工作效率和降低客戶的生產成本,德國光束分析儀廠商Cinogy公司設計生產了專門用于通訊領域的CinAlign光束分析儀和近場光束分析儀,主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等,實時監測光束形狀以及變化。




一、 CinAlign光束分析儀 – 用于測量準直或者較大光斑的激光光束


德國CINOGY公司為通訊領域客戶專門設計生產的CinAlign光束分析儀,主要是用于測量準直的或者較大光斑的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等。CinAlign主要分為CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR兩種相機,基本涵蓋了所有通訊波長,其響應波長范圍為320~1610nm,主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長的激光器。CinAlign測量的激光光斑范圍為52um~4mm,兼容測量連續以及脈沖激光器。

 

主要特點:

1.  測量的波長范圍:400~1610nm

2。 測量的光斑大小:52um~4mm

3. 實時監控光斑形狀以及變化

4. 分辨率高,高準確度

5。 測量激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等

 


主要技術指標:

相機型號

Cinam CMOS-1202

CinCam CMOS-1201-IR

規格

1/1。8’’

1/2’’

通光孔徑

6。8mm x 5。4mm

6。7mm x 5。3mm

分辨率

1280x 1024

1280x 1024

像素大小

5.3um x 5.3um

5。2um x 5。2um

波長范圍

400~1350nm

1470~1610nm

位深

8Bit

8Bit

動態范圍

>62dB

>61dB

接口

USB2。0

USB2.0

模式

連續和脈沖

連續

尺寸(WxHxL)

40mm x 40mm x 20mm

40mm x 40mm x 20mm

分析軟件

RayCi-Lite(可升級到Standard, Pro版)

 

 

主要軟件視圖:

(詳細可參考RayCi分析軟件介紹)

 

1)光斑/橢圓度的測量




2)實時測量,能量分布/光束參數(尺寸大小、橢圓度、位置等)




3)發散角測量






近場光束分析儀 – 用于測量近場/聚焦激光光束

 

德國CINOGY公司為通訊領域客戶專門設計生產的近場光束分析儀,主要是用于測量近場/聚焦光束的焦點光斑大小、焦距、發散角、功率以及指向穩定性等。該系統集成了CinCam CMOS光束分析儀,確保了測量的準確性。測量波長范圍為320~1610nm,基本涵蓋了所有通訊波長,一般主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長。近場光束分析儀系統主要由顯微鏡和CinCam CMOS光束分析儀組成,其可測量的聚焦的光斑最小可達1.1um。另外,該系統為一個開放式光束分析儀系統,其中的CinCam CMOS光束分析儀可取下使用,用于測量準直的或者較大光斑的光束(最大測量光斑為4mm)。



RayCi-Lite軟件

功能介紹視頻:


主要特點:

1、測量的波長范圍:320~1610nm

2、測量的光斑大小:1。1um~4mm

3、實時監控光斑形狀以及變化

4、分辨率高,高準確度

5、測量焦點位置的光斑大小、發散角、功率以及指向穩定性等

 


技術指標:

規格

10x System

20x System

40x System

波長范圍

320~1350nm,1470~1610nm

工作距離(mm)

10

3.3

0。6

焦距(mm)

15.26

8。55

4.39

可替換的衰減片

OD1。0~OD5。0

光學分辨率(um)

1。5

1.2

1

光斑大小(um):

CMOS1201

CMOS1202

CMOS1203

~5.2-267

~5.3-272

~4。5-270

~2.6-134

~2。6-136

~2。3-135

~1。3-67

~1.3-68

~1。1-67

視場(um):

CMOS 1201

CMOS 1202

CMOS 1203

666 x 533

678 x 543

720 x 540

333 x 267

339 x 272

360 x 270

167 x 134

170 x 136

180 x 135

最大輸入功率

100mW

分析軟件

RayCi-Lite/Standard/Pro

 


主要軟件視圖:

(詳細可參考RayCi分析軟件介紹)


1)焦點位置的光斑/功率/指向穩定性的測量





2)發散角的測量



主要配件:

1、衰減片和衰減器

2、縮束鏡

3、手動/自動導軌



數據單下載

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產品標簽:光束分析儀,近場光束分析儀,聚焦光束測量儀,聚焦光輪廓分析儀,通訊領域專用光束分析儀,光束質量分析儀,實時準直系統,實時光斑準直測量系統

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