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拉曼光譜成像系統

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NT-MDT原子力顯微鏡

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NT-MDT 原子力顯微鏡,精度高,可拓展性強!

所屬類別:材料分析設備 ? 拉曼光譜成像系統

所屬品牌:

產品負責人:

姓名:李工(Mark)

電話:185 1643 1530(微信同號)

郵箱:tiemin-li@wkbaza.com


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自1998年以來,NT-MDT已成功地將AFM與光學顯微鏡和光譜技術相集成。支持包括HybriD ModeTM在內的30多種基本和高級AFM模式,可提供有關樣品表面物理性質的廣泛信息。 AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成提供了有關樣品的更多信息。


完全相同的樣品區域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關樣品物理性質(AFM)和化學成分(Raman)的補充信息。


NTEGRA Spectra II借助尖端增強拉曼散射(TERS),可以進行納米級分辨率的光譜學/顯微術。特制的AFM探針(納米天線)可用于TERS,以增強和定位尖端頂端附近納米級區域的光。


這種納米天線充當光的“納米源”,從而提供了光學成像的可能性,其分辨率小于衍射極限(max?10 nm)。掃描近場光學顯微鏡(SNOM)是獲得旋光性樣品的光學和光譜圖像的另一種方法,其分辨率受探針孔徑大小(?100 nm)限制。

NT-MDT 原子力顯微鏡系統光路圖


所有可能的激發/檢測和TERS的解決方案

應用

CdS納米線通過導電聚合物納米線與金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結構上。 由于AFM探針的形狀,激光可以直接定位在尖端頂點上。

高分辨率AFM圖像可提供有關樣品形貌的信息。 從同一區域獲取的拉曼圖和發光圖顯示出納米線化學成分的差異。


光學圖片

                                          

                原子力顯微鏡掃描圖                       拉曼掃描圖                                熒光掃描圖                                    拉曼譜


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產品標簽:原子力顯微鏡,TERS,二維材料,半導體,晶圓,納米材料,納米器件

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